Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Тестеры "ложе гвоздей"

Свернуть Развернуть
Тестер Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система типа "ложе гвоздей", ...

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Тестер Compact TK – это тестовая система типа "ложе гвоздей", предназначенная для аналогового и цифр...

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Тестер TR-17VIP – это тестовая система типа "ложе гвоздей", предназначенная для аналогового и цифров...

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...

Внутрисхемные тестеры "ложе гвоздей" применяются для внутрисхемного и функционального контроля смонтированных электронных модулей. При этом сопряжение с модулем выполняться с помощью специализированного адаптера «ложе гвоздей», т.е. для каждого типа печатных плат необходим специализированный адаптер. Кроме того, изделие должно иметь дополнительные тестовые точки сопряжения.


Мы используем куки для улучшения работы этого сайта
Продолжая просмотр сайта, вы соглашаетесь с политикой обработки персональных данных и cookie-файлов