- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Электротермотренировка (ЭТТ) – это общепризнанный как в России, так и за рубежом наиболее эффективны...
Комплексы ЭТТ производства ООО «Совтест АТЕ» предоставляют следующие возможности для проведения испытаний:
- Задание тепловых режимов испытаний в требуемом диапазоне.
- Задание электрических режимов и контроль выходных параметров изделия....
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального к...
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд измерительный FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик ц...
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд измерительный FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифр...
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Назначение:
- Выявление дефектных и контрафактных электронных компонентов на этапе входного контроля.
- Сокращение расходов на устранение дефекта конечного изделия.
- Исключение человеческого фактора в принятии решения о качестве...
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми пр...
Различные типы МЭМС требуют контроля параметров при различных физических воздействиях, воздействий температур и прочих условиях, определяющих функциональность устройства. Обычно для достижения надежной и точной проверки устройства требуется тщательный...
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметро...
Манипуляторы совместимы с такими тестовыми системами как Sovtest FT17HF, Verigy и др.
Область применения:
Область применения:
- Приемо-сдаточные испытания ЭКБ.
- Входной контроль ЭКБ
- Квалификационные и отбраковочные испытания ЭКБ.
Сортировщик Pick and Place для тестирования ЭКБ
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до плюс 155° С и последующей их сортировкой по результатам тестирования.Манипуляторы ...
Зондовая установка предназначена для реализации автоматического режима загрузки, позиционирования и ...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром , 6 ̋ ,8 ̋ и 12 ̋.
Зондовая установка обеспечивает работу с пластинами толщиной от 350 до 2200 мкм (стандартные ...
Зондовая установка предназначена для реализации автоматического режима загрузки, позиционирования и ...
Зондовая установка предназначена для работы со стандартными полупроводниковыми пластинами диаметром 4 ̋, 5 ̋ , 6 ̋ и 8 ̋.
Зондовая установка обеспечивает работы загрузку/выгрузку пластин в стандартные кассеты на 13 позиций для пластин диаметром...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIP8 , SOP4 и SOP6L с опцией нагрева.
...
...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий и их последующей сортировкой по результатам тестирования. Перемещение...
Линейка тестового оборудования для микроэлектроники предназначена для контроля качества цифровых микросхем, аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, реле, полупроводниковых, микроэлектромеханических (МЭМС) и других компонентов.
Эти универсальные контрольно-измерительные системы позволяют проводить тестирование как при нормальных условиях окружающей среды, так и при условии воздействия различных климатических факторов.