18 декабря 2025г. в Национальном исследовательском университете «МИЭТ» прошла II научно-практическая конференция «Технологии микросистем, корпусирования и сборки ЭКБ». Наше предприятие вошло в число организаторов этого знакового для российской микроэлектроники события, совместно с ПИШ МИЭТ и АО «ЗНТЦ». В мероприятии приняли участие более 200 человек и более 40 компаний-участников.
На конференции ведущие эксперты отрасли представили актуальные решения в области высокоплотного корпусирования, технологий предкорпусирования, производства композитных материалов и проектирования 3D микросборок с использованием российских САПР. Предприятие «Совтест АТЕ» как индустриальный партнер НИУ МИЭТ направило на конференцию сразу трех докладчиков:
1. 1-й заместитель Генерального директора Лисов Владимир Станиславович, обратился к участникам конференции с приветственным словом и представил собравшимся свой доклад на тему «Установка УМКА для автоматического монтажа полупроводниковых кристаллов». Это российская разработка нашего предприятия, не имеющая отечественных аналогов на нашем рынке .
Установка автоматического монтажа компонентов УМКА
2. Главный конструктор Малышев Роман Анатольевич рассказал экспертной аудитории о новейшей разработке «Совтест АТЕ» — автоматической зондовой установке для тестирования электрических параметров интегральных микросхем и полупроводниковых приборов. Его доклад раскрыл тему «Состояние и перспективы разработки оборудования для зондового контроля кристаллов на пластине"
.jpg)
Автоматическая зондовая установка для контроля полупроводниковых пластин (ЗУПП)
3. Генеральный директор ООО «Совтест Микро» Крекотень Фёдор Владимировичназвал свою онлайн-презентацию «Технологические вызовы в разработке и производстве оснастки (проб-карт, УКФ) для измерений параметров современной ЭКБ на пластине». В ней он упомянул о том, что «Совтест АТЕ» сегодня является первым и единственным производителем проб-карт (УКФ) с полным циклом в России. Это разработанная нашим предприятием технология мирового уровня, закрывающая ключевые потребности отечественных производителей микроэлектроники.Она обеспечивает синергетический эффект, поскольку наше предприятие также поставляет зондовые станции и тестовые системы собственной разработки. Это даёт заказчику решение «под ключ» для автоматизированных измерений электропараметров на полупроводниковой пластине.
Выступления докладчиков вызывали живой интерес и активное обсуждение среди участников конференции. Её проведение подтвердило высокий интерес профессионального сообщества к отечественным разработкам и создало платформу для продуктивного обмена опытом в области микроэлектроники.
